Analyse de lames MET au MEB avec CIQTEK
L’analyse de lames minces pour l’observation en microscopie électronique en transmission (MET) est désormais possible grâce aux MEB CIQTEK. Ces microscopes électroniques à pointe FEG de haute résolution permettent d’acquérir des images très nettes, comme avec un MET classique.
Des paramètres adaptés pour des images de qualité
Pour obtenir des résultats optimaux, il est conseillé de travailler à 30 kV sur des lames fines d’environ 100 nm. Le détecteur STEM rétractable est placé sous l’échantillon sur un carrousel à 12 positions. Cette configuration assure une grande précision et une répétabilité des acquisitions.
Le détecteur STEM CIQTEK
Le détecteur STEM CIQTEK se compose de trois anneaux concentriques. L’anneau central capte l’image en champs clair (BF), l’anneau intermédiaire capture l’image en champs sombre (DF), et l’anneau externe fournit une image riche en contraste chimique (HAADF).
Image STEM en champ sombre acquisent sur SEM5000X
Image STEM en champ clair et localisation de précipités nanométriques
Ces images permettent de localiser précisement des précipités nanométriques. Les acquisitions effectuées à x150 000 sur le 5000X de CIQTEK, démontrent la précision et la qualité de cette technique.
Imagerie BF
Imagerie DF
Imagerie DFHAADF
Coupe de pancréas de rat réalisée avec le SEM4000X et le détecteur STEM
Une solution économique et efficace
Bien que les détecteurs STEM soient automatisés et rétractables, leur coût reste élevé. Pour offrir une alternative plus accessible, Synergie4 propose un accessoire simple. Ce dispositif convertit les électrons transmis à travers l’échantillon en électrons secondaires via un réfecteur. Il permet alors d’obtenir une image en champ clair sans détecteur STEM.
Les images obtenues avec cette solution économique conservent une résolution remarquables. Sur l’exemple ci-dessous, l’épaisseur de fibres creuses d’amiante de 12nm peut être mesurée avec précision.
Image STEM en champ sombre acquisent sur SEM5000X
Image STEM en champ clair et localisation de précipités nanométriques
Compatibilité et applications
Cet accessoire compact peut également être utilisé sur notre MEB de table Alpha de SEC. Il offre une solution simple et efficace pour observer vos lames MET. Il permet de bénéficier d’images en transmission de haute qualité sans investissement lourd.
Synergie4, votre partenaires en solutions MEB
Chez Synergie4, nous accompagnons nos clients dans l’acquisition et l’optimisation de leurs images MEB. Notre expertise permet de proposer des accessoires innovants, économiques et faciles à utiliser, adaptés à vos besoins spécifiques. Que ce soit pour l’observation de lames MET ou pour des projets nécessitant une résolution nanométrique, nous sommes à vos côtés pour vous aider à exploiter pleinement le potentielle de vos microscopies électroniques.
N’hésitez pas à nous contacter pour en savoir plus ou pour planifier vos observations.