Synergie4 annonce l’installation du microscope électronique à balayage CIQTEK SEM3200 chez Sigatec SA en Suisse afin de renforcer ses capacités d’analyse, de contrôle qualité et de caractérisation des matériaux.
Synergie4 a participé aux 25èmes Journées Nationales du RIME 2026 à Dijon, un événement majeur dédié à la microscopie électronique et à l’innovation scientifique.
Nous avons eu le plaisir de participer à l'édition 2026 de l'École de Printemps, organisée par le CLUB MEB.
Découvrez l’arrivée de David chez Synergie4 en tant que Directeur des ventes en Microscopie Électronique et Rayons X pour accompagner vos projets scientifiques et industriels.
Analyse de lames MET au MEB avec CIQTEK L'analyse de lames minces pour l'observation en microscopie électronique en transmi...
Découvrez le SEM5000X de CIQTEK, un MEB FEG ultra haute résolution atteignant 0,6 nm. Disponible en pression variable, il offre des performances avancées pour matériaux, semi-conducteurs et biologie.
La µXRF intégrée au MEB permet une analyse non destructive et ultra-sensible des éléments en traces dans des matrices complexes comme l’obsidienne Verredragon. Grâce au système QUANTAX – XTrace 2 de Bruker, il est possible d’identifier et de quantifier des éléments jusqu’à quelques dizaines de ppm, en complément de l’EDS, pour une microanalyse complète et performante.
Découvrez la platine chauffante et refroidissante MHCS de Kleindiek pour microscope électronique : contrôle thermique précis de -60 °C à +125 °C, intégration facile en MEB.
Le mode HART Plus adapte le pas de rotation en continu selon l’orientation de l’échantillon. Cette approche réduit fortement le temps d’acquisition en tomographie RX tout en conservant une qualité d’image équivalente à un scan long avec un pas fixe faible.
Découvrez comment la µXRF permet la cartographie élémentaire non destructive pour analyser cartes électroniques et matériaux complexes.