Nous avons eu le plaisir de participer à l'édition 2026 de l'École de Printemps, organisée par le CLUB MEB.
Analyse de lames MET au MEB avec CIQTEK L'analyse de lames minces pour l'observation en microscopie électronique en transmi...
Découvrez le SEM5000X de CIQTEK, un MEB FEG ultra haute résolution atteignant 0,6 nm. Disponible en pression variable, il offre des performances avancées pour matériaux, semi-conducteurs et biologie.
La µXRF intégrée au MEB permet une analyse non destructive et ultra-sensible des éléments en traces dans des matrices complexes comme l’obsidienne Verredragon. Grâce au système QUANTAX – XTrace 2 de Bruker, il est possible d’identifier et de quantifier des éléments jusqu’à quelques dizaines de ppm, en complément de l’EDS, pour une microanalyse complète et performante.
Découvrez la platine chauffante et refroidissante MHCS de Kleindiek pour microscope électronique : contrôle thermique précis de -60 °C à +125 °C, intégration facile en MEB.
Le mode HART Plus adapte le pas de rotation en continu selon l’orientation de l’échantillon. Cette approche réduit fortement le temps d’acquisition en tomographie RX tout en conservant une qualité d’image équivalente à un scan long avec un pas fixe faible.
Découvrez comment la µXRF permet la cartographie élémentaire non destructive pour analyser cartes électroniques et matériaux complexes.
Synergie4 présente ses meilleurs vœux pour 2026 et remercie ses clients, partenaires et collaborateurs pour leur confiance. Cette nouvelle année s’inscrit sous le signe de l’innovation, de la performance et de collaborations durables au service de la recherche et de l’industrie.
Découvrez les performances du détecteur EBSD eWARP sur le SEM4000Pro : cartographies EBSD ultra-haute résolution, vitesse record et précision nanométrique.
Synergie4 annonce la première installation en France du microCT X4 POSEIDON de Bruker à l’IMT Mines Albi. Cette technologie de pointe renforce les capacités d’analyse non destructive, d’imagerie 3D haute résolution et ouvre de nouvelles perspectives pour la recherche scientifique et industrielle.