Quand la haute résolution rencontre la haute vitesse
Performance du détecteur EBSD sur le SEM4000Pro
Nous sommes fiers de présenter les capacités exceptionnelles du détecteur EBSD eWARP pour l’acquisition de cartographies d’orientations cristallines ultra-rapides en ultra-haute définition. Sa vitesse, sa présicion et sa stabilité permettent d’obtenir des cartographies microstructurales détaillés sur de grandes surfaces. Le détecteur EBSD BRUKER eWARP est idéal pour le contrôle qualité, et pour la R&D pour l’optimisation des procédés matériaux.
Acquisition EBSD ultra-haute définition : rapidité et précision
Cette analyse a été réalisée sur le MEB-FEG SEM4000Pro de CIQTEK, à une tension d’accélération de 10 kV et un courant de 17 nA. Ces paramètres garantissent des images d’une haute résolution nanométrique. Le pas entre chaque pixel mesurait 25 nm, et la vitesse d’acquisition a atteint 14 000 images par seconde, avec un temps d’exposition de seulement 68 microsecondes par pixel. En seulement 12 minutes, 9 millions de pixels ont été acquis, produisant des cartographies EBSD d’une qualité exceptionnelle. Ces images révèlent les structures les plus fines et permettent de visualiser les microstructures complexes des matériaux.
Pourquoi cette performance EBSD est un atout pour vos analyses ?
Grâce à cette technologie, il est désormais possible de cartographier de grandes surfaces rapidement, tout en conservant une résolution nanométrique. Le temps nécessaire pour obtenir des données fiables est considérablement réduit, sans compromettre la précision des résultats. Cela permet une caractérisation microstructurale efficace, même pour les matériaux les plus difficiles à analyser. Ce détecteur offre de nouvelles perspectives pour le contrôle qualité, la R&D et l’optimisation des procédés industriels.
Applications et bénéfices pour la R&D et la production
La combinaison de la haute résolution et la grande vitesse se traduit concrètement par une meilleure compréhension des microstructures accessibles rapidement. Cela permet aussi d’optimiser les développements matériaux et les procédés de production. Que ce soit pour l’analyse de défauts, le contrôle de la microstructure ou la caractérisation des matériaux complexes, le SEM4000Pro associé au détecteur EBSD permet de gagner du temps tout en obtenant des résultats fiables et détaillés.
