Système TXRF

Système TXRF

Système T-STAR

Système compact et de paillaisse d’analyse élémentaire par la méthode TXRF.
La technique d’analyse par rayons x en totale réflection permet l’analyse rapide de la majorités des métaux pour des teneurs extrêmement faibles (ppb voir moins).

Brochure : S4 T-Star

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Système PICOFOX

Le S2 PICOFOX est un spectromètre TXRF portable pour l’analyse des d’éléments en ultra-traces. Grâce à son indépendance totale vis-à-vis de tout gaz ou fluide de refroidissement, l’analyseur peut être utilisé non seulement en laboratoire, mais aussi sur le terrain.

-Analyse simultanée de traces multi-éléments, y compris les halogénures
-Analyse de très petites quantités d’échantillons, de l’ordre du nanogramme ou du microgramme
-Quantification simple grâce à un étalon interne, sans étalonnage quotidien
-Adapté à divers types d’échantillons et applications
-Sans effet matrice ni effet mémoire
-Faible coût d’exploitation, sans support, consommables ni maintenance périodique

Brochure : S2 PICOFOX

technique-TXRF
La spectroscopie TXRF utilise un monochromateur multicouche pour générer un faisceau fin qui frappe un échantillon sous un très petit angle pour un rendement de fluorescence amélioré et un bruit réduit permettant l’analyse des traces élémentaires.

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