Leader dans le domaine de la diffraction de rayons X, BRUKER Nano complète son offre en microscopie électronique et propose le
système CrystAlign d’analyse par diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD), intégré au système EDS Quantax.

Des analyses TKD avec une résolution spatiale de quelques nanomètres et à faible courant de sonde ? Des images Bright Field et Dark Field avec votre MEB FEG ?
Optez pour notre solution exclusive : le système OPTIMUS.

Brochure : Optimus2
Brochure : EBSD – CMOS
Brochure : EBSD Bruker
Brochure : FSE argus