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BRUKER Nano Microanalyses X et diffraction d'électrons
  • XTRACE Micro-XRF  (micro fluorescence) Bruker Nano

    XTRACE Micro-XRF (micro fluorescence) Bruker Nano

    Le système XTrace est le plus évolué de la gamme des appareils de micro-fluorescence pour microscope électronique à balayage.
    Il est doté d’une optique de type polycapillaire, le faisceau X est focalisé sur 25 µm.
    Cet appareil couplé à votre EDS, permet l’analyse ponctuelle, l’acquisition de profils et de cartographies sur des échantillons sans préparation préalable, l’analyse combinée est rendue possible par la toute nouvelle interface ESPRIT 2.0.

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  • Système EBSD Bruker Nano

    Système EBSD Bruker Nano

    Leader dans le domaine de la diffraction de rayons X, BRUKER Nano complète son offre en microscopie électronique et propose le système CrystAlign d’analyse par diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD), intégré au système EDS Quantax.

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  • XSENSE Spectromètre WDS BRUKER Nano

    XSENSE Spectromètre WDS BRUKER Nano

    Nouveau spectromètre WDS à faisceau parallèle.
    Grace à une optique performante, une électronique rapide et une mécanique très innovante le système XSense est le complément idéal au détecteur SDD.
    Sa résolution de 4,7 eV sur le K alpha du silicium permet d’atteindre une sensibilité et une sélection bien supérieure au détecteur SDD.

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  • Système EDS Quantax de Bruker Nano

    Système EDS Quantax de Bruker Nano

    Une nouvelle fois, Bruker s’impose comme une référence en matière de performances et de fonctionnalités pour la spectrométrie à sélection d’énergie en microscopie électronique à balayage. La nouvelle génération de détecteurs XFlash® 6 se distingue par des surfaces actives comprises entre 10 et 100 mm2.
    La génération 6 comprend les matériels et logiciels qui permettent d’obtenir les résultats les plus rapides et les plus fiables :
    Un gain de temps : des détecteurs SDD de grande surface et de faible diamètre alliés à un traitement du signal performant permettent des acquisitions plus rapides
    Une facilité d’emploi : des détecteurs légers et motorisés, ce qui facilite insertion ou rétraction
    Une meilleure précision : des résolutions spectrales exceptionnelles pour des analyses de grande précision
    Une meilleure fiabilité : des bases de données complètes garantissent une identification fiable des raies de basse énergie
    Plus de justesse : des algorithmes de quantification éprouvés, des méthodes d’analyse avec témoins simulés ou réels pour des résultats justes

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