Le Gentle Ion Beam (GIB) de Technoorg est une source d’ions Ar basse énergie idéale pour l’amincissement de surface, le post-traitement après d’autres traitements de surface, le nettoyage et l’élimination des couches amorphes et oxydées.

Intégrée dans un microscope électronique à balayage (SEM), cette source permet de nettoyer les échantillons juste avant leur examen.
Le système de transfert linéaire et le contrôle électronique assurent une haute précision, rendant l’appareil parfait pour le polissage final et le nettoyage délicat des échantillons TEM.

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