Systèmes d'analyse par Fluorescence X classique (XRF et µXRF) et par Fluorescence X en totale refection (TXRF)
M4 Tornado PLUS
Système à Double détecteurs SDD de 60mm² et détecteuin des éléments légers
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M6 JETSTREAM
Unique ce scanner µXRF est dédié à l’analyse sans contact des oeuvres d’art et des tableaux.
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S4 T-STAR
Système compact et de paillaisse d’analyse élémentaire par la méthode TXRF.
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