Contact au +33 1 60 86 08 48 Microscope à balayage à émission de champ (MEB FEG)
CIQTEK propose deux types de microscope à émission de champ :
Pointe à Cathode chaude Schottky (amplification par effet de champ de l’émission thermo-ionique).
La série 4000 (double condenseur 200nA ) et la série 5000 (beam booster)
Résolutions ultimes:
– 0.6 nm à 15 kV – 1 nm à 1 kVDétecteur ETD, LVD, Inlens (SE et BSE)
Détecteur STEM et système CRYO SEM.
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