TECHNOORG LINDA propose des systèmes pour la préparation des échantillons pour la microscopie électronique.

Amincissement ionique de lames minces pour la microscopie en transmission (MET) avec le GentleMill et polissage ionique pour l’observation en EBSD.
Découpe ionique transversale et polissage pour observation au MEB avec le SC-2000

Outils de découpe mécanique et de préparation pour lames TEM.

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