Synergie4 a sélectionné pour vous quelques webinaires à voir ou à revoir :

Nouvelle combinaison de techniques analytiques pour le MEB JEOL IT200 : l’EBSD e-Flash XS (CMOS) et l’EDS XFlash.

Bruker Nano Analytics a développé un nouveau système EDS&EBSD intégré au MEB JEOL IT200, proposant un excellent rapport prix/performances analytiques. Lien pour en savoir plus : https://register.gotowebinar.com/register/4467465688248059919

Ear evolution in fossil mammals

Vous souhaitez en savoir plus sur l’oreille et ses fonctions à travers l’utilisation de la micro- et nano-CT ? Alors ne manquez pas ce passionnant webinaire : https://event.on24.com/wcc/r/2833113/E4C016502F64B591F3A3D3D3B492B5C7?mode=login&email

New! Windowless high collection angle EDS detector with 100 mm² oval silicon drift detector area

Découvrez le nouveau détecteur EDS à grand angle de collecte, sans fenêtre, avec une SDD ovale de 100 mm² , le XFlash® 6T-100 oval pour TEM, STEM et le XFlash® 6-100 oval pour SEM et T-SEM à travers ce lien : https://www.bruker.com/events/webinars/new-windowless-high-collection-angle-eds-detector-with-100-mm2-oval-silicon-drift-detector-area.html

EDS of semiconductor lamellae in SEM (T-SEM) and STEM

Des approches efficaces pour l'EDS quantitatif d'échantillons transparents aux électrons en SEM (appelé T-SEM) et en STEM ont été présentées dans le webinaire accessible à travers ce lien : https://www.bruker.com/events/webinars/eds-of-semiconductor-lamellae-in-sem-and-stem.html